Лаборатория космологии и физики элементарных частиц МЦФЭЧиАФФ

2016 2025
Число публикаций по квартилям JIF
i
Число публикаций по квартилям CiteScore
i
Комплексный балл публикационной результативности
184.7
Число публикаций в журналах по CiteScore
i
0
Число публикаций в наивысших 10 процентилях CiteScore
0
Число публикаций в наивысшем процентиле CiteScore
2
Количество ВКР студентов, защищенных под руководством научных работников
3
Количество защищенных кандидатских диссертаций
1
Количество защищенных докторских диссертаций
0
Количество защищенных PhD диссертаций
10 наиболее цитируемых публикаций
i
  1. 1
    Test of lepton universality with B 0 → K *0 ℓ + ℓ − decays
    475 цитирований
    в Scopus.
  2. 2
    Angular analysis of the B0 → K*0μ+μ− decay using 3 fb−1 of integrated luminosity
    442 цитирования
    в Scopus.
  3. 3
    Observation of the Doubly Charmed Baryon Ξcc + +
    285 цитирований
    в Scopus.
  4. 4
    Measurement of the Ratio of the B0 →d∗-τ+ντ and B0 →d∗-μ+νμ Branching Fractions Using Three-Prong τ -Lepton Decays
    192 цитирования
    в Scopus.
  5. 5
    Measurement of the Bs0 →μ+μ- Branching Fraction and Effective Lifetime and Search for B0 →μ+μ- Decays
    188 цитирований
    в Scopus.
  6. 6
    Observation of Five New Narrow Ωc0 States Decaying to Ξc+ K-
    185 цитирований
    в Scopus.
  7. 7
    Measurement of the Ratio of Branching Fractions B (Bc+ →j /ψτ+ντ)/ B (Bc+ →j /ψμ+νμ)
    182 цитирования
    в Scopus.
  8. 8
    Test of lepton flavor universality by the measurement of the B0 →d∗-τ+ντ branching fraction using three-prong τ decays
    146 цитирований
    в Scopus.
  9. 9
    DarkSide-20k: A 20 tonne two-phase LAr TPC for direct dark matter detection at LNGS
    145 цитирований
    в Scopus.
  10. 10
    Observation of J /ψφ Structures Consistent with Exotic States from Amplitude Analysis of B+ →j /ψφK+ Decays
    106 цитирований
    в Scopus.
Рейтинг авторов по числу публикаций в Q1-Q2
i
Патенты / свидетельства
i
0
Количество патентов на изобретение
0
Количество патентов на полезную модель
0
Количество патентов на промышленный образец
0
Количество свидетельств о регистрации базы данных
0
Количество свидетельств о регистрации программ для ЭВМ
0
Количество свидетельств о регистрации ноу-хау