Лаборатория изучения свойств b- и c-кварков в е+е- аннигиляции МЦФЭЧиАФФ

2016 2025
Число публикаций по квартилям JIF
i
Число публикаций по квартилям CiteScore
i
Комплексный балл публикационной результативности
316.6
Число публикаций в журналах по CiteScore
i
0
Число публикаций в наивысших 10 процентилях CiteScore
0
Число публикаций в наивысшем процентиле CiteScore
0
Количество ВКР студентов, защищенных под руководством научных работников
0
Количество защищенных кандидатских диссертаций
0
Количество защищенных докторских диссертаций
0
Количество защищенных PhD диссертаций
10 наиболее цитируемых публикаций
i
  1. 1
    Averages of b-hadron, c-hadron, and τ -lepton properties as of summer 2016
    527 цитирований
    в Scopus.
  2. 2
    Measurement of the τ Lepton Polarization and R (D∗) in the Decay B →d∗τ- ν τ
    319 цитирований
    в Scopus.
  3. 3
    Measurement of the branching ratio of B0 →d∗+τ- ν τ relative to B 0 →d∗+ℓ −νℓ decays with a semileptonic tagging method
    270 цитирований
    в Scopus.
  4. 4
    Lepton-Flavor-Dependent Angular Analysis of B →k∗ℓ+ℓ-
    206 цитирований
    в Scopus.
  5. 5
    Observation of Higgs boson production in association with a top quark pair at the LHC with the ATLAS detector
    175 цитирований
    в Scopus.
  6. 6
    Combined measurements of Higgs boson production and decay using up to 80 fb-1 of proton-proton collision data at s =13 TeV collected with the ATLAS experiment
    166 цитирований
    в Scopus.
  7. 7
    The Belle II physics book
    157 цитирований
    в Scopus.
  8. 8
    Observation of H→bb¯ decays and VH production with the ATLAS detector
    125 цитирований
    в Scopus.
  9. 9
    The anomalous magnetic moment of the muon in the Standard Model
    110 цитирований
    в Scopus.
  10. 10
    Measurement of the τ lepton polarization and R (D∗) in the decay B ̄ →d∗τ- ν ̄ τ with one-prong hadronic τ decays at Belle
    109 цитирований
    в Scopus.
Рейтинг авторов по числу публикаций в Q1-Q2
i
Патенты / свидетельства
i
0
Количество патентов на изобретение
0
Количество патентов на полезную модель
0
Количество патентов на промышленный образец
0
Количество свидетельств о регистрации базы данных
0
Количество свидетельств о регистрации программ для ЭВМ
0
Количество свидетельств о регистрации ноу-хау