Лаборатория поиска взаимодействий за рамками Стандартной Модели в экспериментах с мюонами в Фермилаб МЦФЭЧиАФФ

2016 2025
Число публикаций по квартилям JIF
i
Число публикаций по квартилям CiteScore
i
Комплексный балл публикационной результативности
49.57
Число публикаций в журналах по CiteScore
i
0
Число публикаций в наивысших 10 процентилях CiteScore
0
Число публикаций в наивысшем процентиле CiteScore
3
Количество ВКР студентов, защищенных под руководством научных работников
0
Количество защищенных кандидатских диссертаций
2
Количество защищенных докторских диссертаций
0
Количество защищенных PhD диссертаций
10 наиболее цитируемых публикаций
i
  1. 1
    The anomalous magnetic moment of the muon in the Standard Model
    110 цитирований
    в Scopus.
  2. 2
    Measurement of the Positive Muon Anomalous Magnetic Moment to 0.46 ppm
    62 цитирования
    в Scopus.
  3. 3
    Measurement of the e+e- → K+K- cross section in the energy range √s=1.05 - 2.0 GeV
    30 цитирований
    в Scopus.
  4. 4
    Study of the process e+e− → π+π−π0η in the c.m. energy range 1394–2005 MeV with the CMD-3 detector
    27 цитирований
    в Scopus.
  5. 5
    Study of the process e+e− → K+K− in the center-of-mass energy range 1010–1060 MeV with the CMD-3 detector
    23 цитирования
    в Scopus.
  6. 6
    Combined limit on the production of a light gauge boson decaying into μ+μ− and π+π−
    15 цитирований
    в Scopus.
  7. 7
    Study of the process e+e− → π+π−π+π− in the c.m. energy range 920–1060 MeV with the CMD-3 detector
    13 цитирований
    в Scopus.
  8. 8
    Measurement of the e+e- →ηπ+π- cross section with the SND detector at the VEPP-2000 collider
    13 цитирований
    в Scopus.
  9. 9
    Measurement of the e + e - → K S K L π 0 cross section in the energy range s = 1.3 - 2.0 GeV
    12 цитирований
    в Scopus.
  10. 10
    Magnetic-field measurement and analysis for the Muon g-2 Experiment at Fermilab
    12 цитирований
    в Scopus.
Рейтинг авторов по числу публикаций в Q1-Q2
i
Патенты / свидетельства
i
0
Количество патентов на изобретение
0
Количество патентов на полезную модель
0
Количество патентов на промышленный образец
0
Количество свидетельств о регистрации базы данных
0
Количество свидетельств о регистрации программ для ЭВМ
0
Количество свидетельств о регистрации ноу-хау