Кафедра автоматизации физико-технических исследований ФФ

2016 2025
Число публикаций по квартилям JIF
i
Число публикаций по квартилям CiteScore
i
Комплексный балл публикационной результативности
85.46
Число публикаций в журналах по CiteScore
i
0
Число публикаций в наивысших 10 процентилях CiteScore
0
Число публикаций в наивысшем процентиле CiteScore
2
Количество ВКР студентов, защищенных под руководством научных работников
2
Количество защищенных кандидатских диссертаций
0
Количество защищенных докторских диссертаций
0
Количество защищенных PhD диссертаций
10 наиболее цитируемых публикаций
i
  1. 1
    Identification of the nature of traps involved in the field cycling of Hf0.5Zr0.5O2-based ferroelectric thin films
    27 цитирований
    в Scopus.
  2. 2
    Flow hydrodynamics of immiscible liquids with low viscosity ratio in a rectangular microchannel with T-junction
    24 цитирования
    в Scopus.
  3. 3
    On Raman scattering cross section ratio of crystalline and microcrystalline to amorphous silicon
    19 цитирований
    в Scopus.
  4. 4
    Nanostructuring few-layer graphene films with swift heavy ions for electronic application
    17 цитирований
    в Scopus.
  5. 5
    Plasmon polariton enhanced mid-infrared photodetectors based on Ge quantum dots in Si
    15 цитирований
    в Scopus.
  6. 6
    Raman and photoluminescence spectroscopy of SiGe layer evolution on Si(100) induced by dewetting
    15 цитирований
    в Scopus.
  7. 7
    Temperature dependence of photon-enhanced thermionic emission from GaAs surface with nonequilibrium Cs overlayers
    14 цитирований
    в Scopus.
  8. 8
    Splitting of frequencies of optical phonons in tensile-strained germanium layers
    13 цитирований
    в Scopus.
  9. 9
    Charge transport in thin hafnium and zirconium oxide films
    13 цитирований
    в Scopus.
  10. 10
    Memristor effect in GeO[SiO2] and GeO[SiO] solid alloys films
    12 цитирований
    в Scopus.
Рейтинг авторов по числу публикаций в Q1-Q2
i
Патенты / свидетельства
i
0
Количество патентов на изобретение
0
Количество патентов на полезную модель
0
Количество патентов на промышленный образец
0
Количество свидетельств о регистрации базы данных
0
Количество свидетельств о регистрации программ для ЭВМ
0
Количество свидетельств о регистрации ноу-хау