Лаборатория полупроводниковых и диэлектрических материалов ФФ

2016 2025
Число публикаций по квартилям JIF
i
Число публикаций по квартилям CiteScore
i
Комплексный балл публикационной результативности
70.48
Число публикаций в журналах по CiteScore
i
0
Число публикаций в наивысших 10 процентилях CiteScore
0
Число публикаций в наивысшем процентиле CiteScore
0
Количество ВКР студентов, защищенных под руководством научных работников
0
Количество защищенных кандидатских диссертаций
0
Количество защищенных докторских диссертаций
0
Количество защищенных PhD диссертаций
10 наиболее цитируемых публикаций
i
  1. 1
    Giant gap-plasmon tip-enhanced Raman scattering of MoS2 monolayers on Au nanocluster arrays
    35 цитирований
    в Scopus.
  2. 2
    Identification of the nature of traps involved in the field cycling of Hf0.5Zr0.5O2-based ferroelectric thin films
    27 цитирований
    в Scopus.
  3. 3
    Antimicrobial potential of ZnO, TiO2 and SiO2 nanoparticles in protecting building materials from biodegradation
    25 цитирований
    в Scopus.
  4. 4
    All Nonmetal Resistive Random Access Memory
    16 цитирований
    в Scopus.
  5. 5
    Composition-sensitive growth kinetics and dispersive optical properties of thin HfxTi1−xO2 (0 ≤ x ≤ 1) films prepared by the ALD method
    13 цитирований
    в Scopus.
  6. 6
    Fabrication of microcrystalline NaPbLa(WO4)3
    12 цитирований
    в Scopus.
  7. 7
    Charge transport mechanism of high-resistive state in RRAM based on SiOx
    12 цитирований
    в Scopus.
  8. 8
    Memristor effect in GeO[SiO2] and GeO[SiO] solid alloys films
    12 цитирований
    в Scopus.
  9. 9
    The role of a plasmonic substrate on the enhancement and spatial resolution of tip-enhanced Raman scattering
    11 цитирований
    в Scopus.
  10. 10
    Fluorinated graphene suspension for flexible and printed electronics
    11 цитирований
    в Scopus.
Рейтинг авторов по числу публикаций в Q1-Q2
i
Патенты / свидетельства
i
0
Количество патентов на изобретение
0
Количество патентов на полезную модель
0
Количество патентов на промышленный образец
0
Количество свидетельств о регистрации базы данных
0
Количество свидетельств о регистрации программ для ЭВМ
0
Количество свидетельств о регистрации ноу-хау