Кафедра минералогии и геохимии ГГФ

2016 2025
Число публикаций по квартилям JIF
i
Число публикаций по квартилям CiteScore
i
Комплексный балл публикационной результативности
166.9
Число публикаций в журналах по CiteScore
i
0
Число публикаций в наивысших 10 процентилях CiteScore
0
Число публикаций в наивысшем процентиле CiteScore
11
Количество ВКР студентов, защищенных под руководством научных работников
0
Количество защищенных кандидатских диссертаций
0
Количество защищенных докторских диссертаций
0
Количество защищенных PhD диссертаций
10 наиболее цитируемых публикаций
i
  1. 1
    Subcycle observation of lightwave-driven Dirac currents in a topological surface band
    69 цитирований
    в Scopus.
  2. 2
    High-Pressure Synthesis and Characterization of Ge-Doped Single Crystal Diamond
    51 цитирование
    в Scopus.
  3. 3
    Tunable 3D/2D magnetism in the (MnBi2Te4)(Bi2Te3) m topological insulators family
    31 цитирование
    в Scopus.
  4. 4
    Carbonatite melt-peridotite interaction at 5.5-7.0 GPa
    30 цитирований
    в Scopus.
  5. 5
    Hydrothermal Synthesis and Structure Solution of Na2Ca(CO3)2
    26 цитирований
    в Scopus.
  6. 6
    EPR study of Si- and Ge-related defects in HPHT diamonds synthesized from Mg-based solvent-catalysts
    24 цитирования
    в Scopus.
  7. 7
    Tululite, Ca14(Fe3+,Al)(Al,Zn,Fe3+,Si,P,Mn,Mg)15O36
    23 цитирования
    в Scopus.
  8. 8
    Phase relations on the K2CO3-CaCO3-MgCO3 join at 6 GPa and 900-1400 °C
    20 цитирований
    в Scopus.
  9. 9
    The role of fluids in high-pressure polymorphism of drugs
    19 цитирований
    в Scopus.
  10. 10
    Intermediate members of the lime-monteponite solid solutions (Ca1-xCdxO, x = 0.36-0.55)
    19 цитирований
    в Scopus.
Рейтинг авторов по числу публикаций в Q1-Q2
i
Патенты / свидетельства
i
0
Количество патентов на изобретение
0
Количество патентов на полезную модель
0
Количество патентов на промышленный образец
0
Количество свидетельств о регистрации базы данных
0
Количество свидетельств о регистрации программ для ЭВМ
0
Количество свидетельств о регистрации ноу-хау