Лаборатория молекулярной фотоники ФЕН

2016 2025
Число публикаций по квартилям JIF
i
Число публикаций по квартилям CiteScore
i
Комплексный балл публикационной результативности
47.98
Число публикаций в журналах по CiteScore
i
0
Число публикаций в наивысших 10 процентилях CiteScore
0
Число публикаций в наивысшем процентиле CiteScore
4
Количество ВКР студентов, защищенных под руководством научных работников
0
Количество защищенных кандидатских диссертаций
0
Количество защищенных докторских диссертаций
0
Количество защищенных PhD диссертаций
10 наиболее цитируемых публикаций
i
  1. 1
    Alkynes as synthetic equivalents of ketones and aldehydes
    22 цитирования
    в Scopus.
  2. 2
    New Cu(i) halide complexes showing TADF combined with room temperature phosphorescence
    20 цитирований
    в Scopus.
  3. 3
    Primary photochemical processes for Pt(IV) diazido complexes prospectIVe in photodynamic therapy of tumors
    15 цитирований
    в Scopus.
  4. 4
    Ln(III) complexes (Ln = Eu, Gd, Tb, Dy) with a chiral ligand containing 1,10-phenanthroline and (-)-menthol fragments
    13 цитирований
    в Scopus.
  5. 5
    Excitation-Wavelength-Dependent Emission and Delayed Fluorescence in a Proton-Transfer System
    11 цитирований
    в Scopus.
  6. 6
    Complexes of Cu(I) and Pd(II) with (+)-camphor and (–)-cavrone thiosemicarbazones
    10 цитирований
    в Scopus.
  7. 7
    Novel Anthrathiophene-Based Small Molecules as Donor Material for Organic Photovoltaics
    9 цитирований
    в Scopus.
  8. 8
    Photoinduced Electron Transfer in Dyads with (R)-/(S)-Naproxen and (S)-Tryptophan
    9 цитирований
    в Scopus.
  9. 9
    Primary photophysical and photochemical processes for Pt(SCN)(6)(2-)complex
    8 цитирований
    в Scopus.
  10. 10
    Structure and photoluminescence of Zn(II) and Сd(II) complexes with chiral bis-pyridine containing fragments of natural (–)-α-pinene
    8 цитирований
    в Scopus.
Рейтинг авторов по числу публикаций в Q1-Q2
i
Патенты / свидетельства
i
0
Количество патентов на изобретение
0
Количество патентов на полезную модель
0
Количество патентов на промышленный образец
0
Количество свидетельств о регистрации базы данных
0
Количество свидетельств о регистрации программ для ЭВМ
0
Количество свидетельств о регистрации ноу-хау