Лаборатория функциональных материалов на основе кластеров и супрамолекулярных соединений ФЕН

2016 2025
Число публикаций по квартилям JIF
i
Число публикаций по квартилям CiteScore
i
Комплексный балл публикационной результативности
126.8
Число публикаций в журналах по CiteScore
i
0
Число публикаций в наивысших 10 процентилях CiteScore
0
Число публикаций в наивысшем процентиле CiteScore
10
Количество ВКР студентов, защищенных под руководством научных работников
0
Количество защищенных кандидатских диссертаций
2
Количество защищенных докторских диссертаций
0
Количество защищенных PhD диссертаций
10 наиболее цитируемых публикаций
i
  1. 1
    Polyoxometalate, Cationic Cluster, and γ-Cyclodextrin
    74 цитирования
    в Scopus.
  2. 2
    Antimony (V) Complex Halides
    55 цитирований
    в Scopus.
  3. 3
    Rational Synthesis and Investigation of Porous Metal-Organic Framework Materials from a Preorganized Heterometallic Carboxylate Building Block
    52 цитирования
    в Scopus.
  4. 4
    Halogen Contacts-Induced Unusual Coloring in BiIII Bromide Complex
    45 цитирований
    в Scopus.
  5. 5
    Nanosized mesoporous metal–organic framework MIL-101 as a nanocarrier for photoactive hexamolybdenum cluster compounds
    44 цитирования
    в Scopus.
  6. 6
    Nonconventional Three-Component Hierarchical Host-Guest Assembly Based on Mo-Blue Ring-Shaped Giant Anion, γ-Cyclodextrin, and Dawson-type Polyoxometalate
    39 цитирований
    в Scopus.
  7. 7
    Pre-synthesized secondary building units in the rational synthesis of porous coordination polymers
    34 цитирования
    в Scopus.
  8. 8
    Scandium-organic frameworks
    33 цитирования
    в Scopus.
  9. 9
    One-dimensional polymeric polybromotellurates(IV)
    32 цитирования
    в Scopus.
  10. 10
    Multifunctional Metal-Organic Frameworks Based on Redox-Active Rhenium Octahedral Clusters
    31 цитирование
    в Scopus.
Рейтинг авторов по числу публикаций в Q1-Q2
i
Патенты / свидетельства
i
0
Количество патентов на изобретение
0
Количество патентов на полезную модель
0
Количество патентов на промышленный образец
0
Количество свидетельств о регистрации базы данных
0
Количество свидетельств о регистрации программ для ЭВМ
0
Количество свидетельств о регистрации ноу-хау