Аналитический и технологический исследовательский центр "Высокие технологии и наноструктурированные материалы" ФФ
Число публикаций по квартилям JIF
i
Число публикаций по квартилям CiteScore
i
Комплексный балл публикационной результативности
114.1
Число публикаций в журналах по CiteScore
i
0
Число публикаций в наивысших 10 процентилях CiteScore
0
Число публикаций в наивысшем процентиле CiteScore
0
Количество ВКР студентов, защищенных под руководством научных работников
0
Количество защищенных кандидатских диссертаций
0
Количество защищенных докторских диссертаций
0
Количество защищенных PhD диссертаций
10 наиболее цитируемых публикаций
i
-
1The role of metal–support interaction in Ag/CeO2 catalysts for CO and soot oxidation42 цитирования
в Scopus. -
2Memristor effect in GeO[SiO2] and GeO[SiO] solid alloys films12 цитирований
в Scopus. -
3Light emission from Ge(Si)/SOI self-assembled nanoislands embedded in photonic crystal slabs of various periods with and without cavities11 цитирований
в Scopus. -
4Crystallization of Amorphous Germanium Films and Multilayer a-Ge/a-Si Structures upon Exposure to Nanosecond Laser Radiation9 цитирований
в Scopus. -
5Electromigration effect on the surface morphology during the Ge deposition on Si(1 1 1) at high temperatures8 цитирований
в Scopus. -
6Porous nickel-based catalysts for tri-reforming of methane to synthesis gas: Catalytic activity8 цитирований
в Scopus. -
7Highly active carbon-supported Ni catalyst prepared by nitrate decomposition with a sacrificial agent for the hydrogen oxidation reaction in alkaline medium7 цитирований
в Scopus. -
8Revealing the underlying mechanisms behind TE extraordinary THz transmission6 цитирований
в Scopus. -
9Quantum Size Effects in Germanium Nanocrystals and Amorphous Nanoclusters in GeSi xO y Films6 цитирований
в Scopus. -
10Well-directed flux of megawatt sub-mm radiation generated by a relativistic electron beam in a magnetized plasma with strong density gradients6 цитирований
в Scopus.
Рейтинг авторов по числу публикаций в Q1-Q2
i
Патенты / свидетельства
i
0
Количество патентов на изобретение
0
Количество патентов на полезную модель
0
Количество патентов на промышленный образец
0
Количество свидетельств о регистрации базы данных
0
Количество свидетельств о регистрации программ для ЭВМ
0
Количество свидетельств о регистрации ноу-хау