Аналитико-технологический инновационный центр "Высокие технологии и новые материалы" НГУ
Число публикаций по квартилям JIF
i
Число публикаций по квартилям CiteScore
i
Комплексный балл публикационной результативности
16.98
Число публикаций в журналах по CiteScore
i
0
Число публикаций в наивысших 10 процентилях CiteScore
0
Число публикаций в наивысшем процентиле CiteScore
0
Количество ВКР студентов, защищенных под руководством научных работников
0
Количество защищенных кандидатских диссертаций
0
Количество защищенных докторских диссертаций
0
Количество защищенных PhD диссертаций
10 наиболее цитируемых публикаций
i
-
1Simulations of electromagnetic emissions produced in a thin plasma by a continuously injected electron beam22 цитирования
в Scopus. -
2Generation of high-power electromagnetic radiation by a beam-driven plasma antenna20 цитирований
в Scopus. -
3Theory of a beam-driven plasma antenna11 цитирований
в Scopus. -
4Study of plasma-surface interaction at the GOL-3 facility6 цитирований
в Scopus. -
5Comparison of structures of gold nanoparticles synthesized by pulsed laser ablation and magnetron sputtering5 цитирований
в Scopus. -
6Nanoantenna structures for the detection of phonons in nanocrystals5 цитирований
в Scopus. -
7Particle-in-cell simulations of 100 keV electron beam interaction with a thin magnetized plasma4 цитирования
в Scopus. -
8Beam-plasma system as a source of powerful submillimeter and terahertz radiation (experimental and theoretical studies)3 цитирования
в Scopus. -
9The regularities of phase formation in Fe3Si(111)/Si(111) structure at vacuum annealing3 цитирования
в Scopus. -
10Raman shifts and photoluminescence of the InSb nanocrystals ion beam-synthesized in buried SiO2 layers3 цитирования
в Scopus.
Рейтинг авторов по числу публикаций в Q1-Q2
i
Патенты / свидетельства
i
0
Количество патентов на изобретение
0
Количество патентов на полезную модель
0
Количество патентов на промышленный образец
0
Количество свидетельств о регистрации базы данных
0
Количество свидетельств о регистрации программ для ЭВМ
0
Количество свидетельств о регистрации ноу-хау