Лаборатория методов исследования состава и структуры функциональных материалов ФЕН

2016 2025
Число публикаций по квартилям JIF
i
Число публикаций по квартилям CiteScore
i
Комплексный балл публикационной результативности
184.1
Число публикаций в журналах по CiteScore
i
0
Число публикаций в наивысших 10 процентилях CiteScore
0
Число публикаций в наивысшем процентиле CiteScore
3
Количество ВКР студентов, защищенных под руководством научных работников
2
Количество защищенных кандидатских диссертаций
0
Количество защищенных докторских диссертаций
0
Количество защищенных PhD диссертаций
10 наиболее цитируемых публикаций
i
  1. 1
    First hexagonal close packed high-entropy alloy with outstanding stability under extreme conditions and electrocatalytic activity for methanol oxidation
    83 цитирования
    в Scopus.
  2. 2
    Synthesis of Y3Al5O12
    53 цитирования
    в Scopus.
  3. 3
    Thin films of tetrafluorosubstituted cobalt phthalocyanine
    44 цитирования
    в Scopus.
  4. 4
    Thin Films of Unsubstituted and Fluorinated Palladium Phthalocyanines
    32 цитирования
    в Scopus.
  5. 5
    A comparative study of optical properties and X-ray induced luminescence of octahedral molybdenum and tungsten cluster complexes
    31 цитирование
    в Scopus.
  6. 6
    Water-soluble hybrid materials based on {Mo6X8}4+ (X = Cl, Br, I) cluster complexes and sodium polystyrene sulfonate
    31 цитирование
    в Scopus.
  7. 7
    Multifunctional Metal-Organic Frameworks Based on Redox-Active Rhenium Octahedral Clusters
    31 цитирование
    в Scopus.
  8. 8
    Optical Properties of TiO2 Films Deposited by Reactive Electron Beam Sputtering
    27 цитирований
    в Scopus.
  9. 9
    Fluorinated metal phthalocyanines
    27 цитирований
    в Scopus.
  10. 10
    Polymeric iodobismuthates {[Bi 3 I 10 ]} and {[BiI 4 ]} with N-heterocyclic cations
    27 цитирований
    в Scopus.
Рейтинг авторов по числу публикаций в Q1-Q2
i
Патенты / свидетельства
i
0
Количество патентов на изобретение
0
Количество патентов на полезную модель
0
Количество патентов на промышленный образец
0
Количество свидетельств о регистрации базы данных
0
Количество свидетельств о регистрации программ для ЭВМ
0
Количество свидетельств о регистрации ноу-хау