Межкафедральное образовательное подразделение "Совместная образовательная программа СУНЦ - ММФ НГУ "Инженерное программирование""

2016 2025
Число публикаций по квартилям JIF
i
Число публикаций по квартилям CiteScore
i
Комплексный балл публикационной результативности
52.48
Число публикаций в журналах по CiteScore
i
0
Число публикаций в наивысших 10 процентилях CiteScore
0
Число публикаций в наивысшем процентиле CiteScore
0
Количество ВКР студентов, защищенных под руководством научных работников
0
Количество защищенных кандидатских диссертаций
0
Количество защищенных докторских диссертаций
0
Количество защищенных PhD диссертаций
10 наиболее цитируемых публикаций
i
  1. 1
    Test of lepton universality in beauty-quark decays
    29 цитирований
    в Scopus.
  2. 2
    Evidence of a J/ψΛ structure and observation of excited Ξ- states in the Ξb-→J/ψΛK- decay
    9 цитирований
    в Scopus.
  3. 3
    Observation of a new Ξb0 state
    7 цитирований
    в Scopus.
  4. 4
    Analysis of Neutral Formula Presented-Meson Decays into Two Muons
    7 цитирований
    в Scopus.
  5. 5
    Ferromagnetically Coupled S=1 Chains in Crystals of Verdazyl-Nitronyl Nitroxide Diradicals
    3 цитирования
    в Scopus.
  6. 6
    Evidence for a New Structure in the J /ψp and J /ψ p ¯ Systems in Bs0 →J /ψp p ¯ Decays
    3 цитирования
    в Scopus.
  7. 7
    Search for dark matter produced in association with a Standard Model Higgs boson decaying into b-quarks using the full Run 2 dataset from the ATLAS detector
    1 цитирование
    в Scopus.
  8. 8
    Search for the doubly charmed baryon Ωcc+
    1 цитирование
    в Scopus.
  9. 9
    Search for resonances decaying into photon pairs in 139 fb−1 of pp collisions at s=13 TeV with the ATLAS detector
    1 цитирование
    в Scopus.
  10. 10
    Branching Fraction Measurements of the Rare Bs0 →φμ+μ- And Bs0 → f2′ (1525)μ+μ- Decays
    1 цитирование
    в Scopus.
Рейтинг авторов по числу публикаций в Q1-Q2
i
Патенты / свидетельства
i
0
Количество патентов на изобретение
0
Количество патентов на полезную модель
0
Количество патентов на промышленный образец
0
Количество свидетельств о регистрации базы данных
0
Количество свидетельств о регистрации программ для ЭВМ
0
Количество свидетельств о регистрации ноу-хау