Лаборатория функциональной диагностики низкоразмерных структур для наноэлектроники
Число публикаций по квартилям JIF
i
Число публикаций по квартилям CiteScore
i
Комплексный балл публикационной результативности
68.95
Число публикаций в журналах по CiteScore
i
0
Число публикаций в наивысших 10 процентилях CiteScore
0
Число публикаций в наивысшем процентиле CiteScore
0
Количество ВКР студентов, защищенных под руководством научных работников
0
Количество защищенных кандидатских диссертаций
0
Количество защищенных докторских диссертаций
0
Количество защищенных PhD диссертаций
10 наиболее цитируемых публикаций
i
-
1Electromigration effect on the surface morphology during the Ge deposition on Si(1 1 1) at high temperatures8 цитирований
в Scopus. -
2Quantum Size Effects in Germanium Nanocrystals and Amorphous Nanoclusters in GeSi xO y Films6 цитирований
в Scopus. -
3Negative and Positive Photoconductivity and Memristor Effect in Alloyed GeO[SiO] Films Containing Ge Nanoclusters4 цитирования
в Scopus. -
4Raman scattering study of nanoscale Mo/Si and Mo/Be periodic multilayer structures3 цитирования
в Scopus. -
5Study on the effects of terahertz radiation on gene networks of Escherichia coli by means of fluorescent biosensors3 цитирования
в Scopus. -
6Ag–CeO2/SBA-15 composite prepared from Pluronic P123@SBA-15 hybrid as catalyst for room-temperature reduction of 4-nitrophenol3 цитирования
в Scopus. -
7Function composition of modified reduced graphite oxide2 цитирования
в Scopus. -
8Comparative study of electron-beam crystallization of amorphous hafnium oxides HfO2 and HfO x (x = 1.82)2 цитирования
в Scopus. -
9Ultrathin Subterahertz Half-Wave Plate With High Conversion Efficiency Based on Zigzag Metasurface2 цитирования
в Scopus. -
10Resistive switching in non-stoichiometric germanosilicate glass films containing ge nanoclusters2 цитирования
в Scopus.
Рейтинг авторов по числу публикаций в Q1-Q2
i
Патенты / свидетельства
i
0
Количество патентов на изобретение
0
Количество патентов на полезную модель
0
Количество патентов на промышленный образец
0
Количество свидетельств о регистрации базы данных
0
Количество свидетельств о регистрации программ для ЭВМ
0
Количество свидетельств о регистрации ноу-хау