Учебно-научная лаборатория квантовых явлений в конденсированных системах ФФ

2016 2025
Число публикаций по квартилям JIF
i
Число публикаций по квартилям CiteScore
i
Комплексный балл публикационной результативности
106.6
Число публикаций в журналах по CiteScore
i
0
Число публикаций в наивысших 10 процентилях CiteScore
0
Число публикаций в наивысшем процентиле CiteScore
0
Количество ВКР студентов, защищенных под руководством научных работников
2
Количество защищенных кандидатских диссертаций
0
Количество защищенных докторских диссертаций
0
Количество защищенных PhD диссертаций
10 наиболее цитируемых публикаций
i
  1. 1
    Stimulated emission from HgCdTe quantum well heterostructures at wavelengths up to 19.5 μ m
    39 цитирований
    в Scopus.
  2. 2
    Photogalvanic probing of helical edge channels in two-dimensional HgTe topological insulators
    38 цитирований
    в Scopus.
  3. 3
    HgCdTe-based heterostructures for terahertz photonics
    32 цитирования
    в Scopus.
  4. 4
    Temperature-Induced Topological Phase Transition in HgTe Quantum Wells
    31 цитирование
    в Scopus.
  5. 5
    Identification of the nature of traps involved in the field cycling of Hf0.5Zr0.5O2-based ferroelectric thin films
    27 цитирований
    в Scopus.
  6. 6
    Temperature-driven single-valley Dirac fermions in HgTe quantum wells
    25 цитирований
    в Scopus.
  7. 7
    Probing spin helical surface states in topological HgTe nanowires
    23 цитирования
    в Scopus.
  8. 8
    Viscous electron flow in mesoscopic two-dimensional electron gas
    23 цитирования
    в Scopus.
  9. 9
    Valence band energy spectrum of HgTe quantum wells with an inverted band structure
    18 цитирований
    в Scopus.
  10. 10
    Terahertz photoconductivity of double acceptors in narrow gap HgCdTe epitaxial films grown by molecular beam epitaxy on GaAs(013) and Si(013) substrates
    17 цитирований
    в Scopus.
Рейтинг авторов по числу публикаций в Q1-Q2
i
Патенты / свидетельства
i
0
Количество патентов на изобретение
0
Количество патентов на полезную модель
0
Количество патентов на промышленный образец
0
Количество свидетельств о регистрации базы данных
0
Количество свидетельств о регистрации программ для ЭВМ
0
Количество свидетельств о регистрации ноу-хау