Лаборатория строения, свойств и механизмов реакций органических соединений ФЕН

2016 2025
Число публикаций по квартилям JIF
i
Число публикаций по квартилям CiteScore
i
Комплексный балл публикационной результативности
123
Число публикаций в журналах по CiteScore
i
0
Число публикаций в наивысших 10 процентилях CiteScore
0
Число публикаций в наивысшем процентиле CiteScore
17
Количество ВКР студентов, защищенных под руководством научных работников
2
Количество защищенных кандидатских диссертаций
2
Количество защищенных докторских диссертаций
0
Количество защищенных PhD диссертаций
10 наиболее цитируемых публикаций
i
  1. 1
    Isolated fe sites in metal organic frameworks catalyze the direct conversion of methane to methanol
    93 цитирования
    в Scopus.
  2. 2
    Cytosolic YB-1 and NSUN2 are the only proteins recognizing specific motifs present in mRNAs enriched in exosomes
    46 цитирований
    в Scopus.
  3. 3
    Revisiting the Incorporation of Ti(IV) in UiO-type Metal-Organic Frameworks
    43 цитирования
    в Scopus.
  4. 4
    Capture of nitrogen dioxide and conversion to nitric acid in a porous metal–organic framework
    32 цитирования
    в Scopus.
  5. 5
    EPR-based distance measurements at ambient temperature
    31 цитирование
    в Scopus.
  6. 6
    EPR study of Si- and Ge-related defects in HPHT diamonds synthesized from Mg-based solvent-catalysts
    24 цитирования
    в Scopus.
  7. 7
    Spin–Orbit Charge-Transfer Intersystem Crossing (ISC) in Compact Electron Donor–Acceptor Dyads
    24 цитирования
    в Scopus.
  8. 8
    Room-temperature distance measurements using RIDME and the orthogonal spin labels trityl/nitroxide
    23 цитирования
    в Scopus.
  9. 9
    New oxidovanadium(iv) complex with a BIAN ligand
    22 цитирования
    в Scopus.
  10. 10
    Precise Measurement and Controlled Tuning of Effective Window Sizes in ZIF-8 Framework for Efficient Separation of Xylenes
    21 цитирование
    в Scopus.
Рейтинг авторов по числу публикаций в Q1-Q2
i
Патенты / свидетельства
i
0
Количество патентов на изобретение
0
Количество патентов на полезную модель
0
Количество патентов на промышленный образец
0
Количество свидетельств о регистрации базы данных
0
Количество свидетельств о регистрации программ для ЭВМ
0
Количество свидетельств о регистрации ноу-хау